Выбор модели деградации функционального параметра изделий электронной техники

Abstract

Рассматривается выбор математической модели деградации функционального параметра в виде условного закона его распределения для выборки изделий электронной техники при решении задач прогнозирования надёжности. Удачность выбора закона распределения снижает ошибки прогнозирования надёжности новых однотипных выборок изделий. На примере биполярных транзисторов показано, что использование в качестве модели деградации параметра закона распределения, отличного от нормального, может обеспечить лучшие результаты прогнозирования.