Определение оптических характеристик материалов в объеме и поверхностном слое по спектрам внутреннего отражения

Abstract

В рамках явления НПВО в первом порядке теории малых возмущений по отклонению диэлектрической проницаемости образца от ее объемного значения получено аналитическое выражение для амплитудного коэффициента отражения s- и p-поляризованного света и общего вида профиля диэлектрической проницаемости в поверхностном слое. Предложен способ, позволяющий исключить влияние поверхностного слоя при определении из спектров внутреннего отражения оптических характеристик материалов в объеме.