| Title: | К вопросу измерения интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками |
| Authors: | Стрежнев, С.А. Куинджи, В.В. Саамова, Т.С. |
| Issue Date: | 1984 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Стрежнев, С.А. К вопросу измерения интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками / С.А. Стрежнев, В.В. Куинджи, Т.С. Саамова // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1984. – Т. 56, вып. 2. – С. 353 - 355. |
| Abstract: | Описан новый метод измерения относительной интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками, основанный на пространственном разделении дефектов и вторичных дифракционных максимумов, соответствующих дифракции Фраунгофера на прямоугольной апертуре исследуемой дифракционной решетки. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/61740 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Стрежнев_К_вопросу.pdf | 23.39 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.