Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМузис, А.-
dc.contributor.authorОльшвангер, Б.-
dc.contributor.authorТаксар, И.-
dc.contributor.authorТеснавс, Э.-
dc.contributor.authorТумулькан, А.-
dc.contributor.authorФедотов, И.-
dc.contributor.authorШабалин, В.-
dc.contributor.authorЯнушковский, В.-
dc.date.accessioned2020-05-27T06:52:37Z-
dc.date.available2020-05-27T06:52:37Z-
dc.date.issued1968-
dc.identifier.citationНовый радиоизотопный метод измерения малых толщин пленочных материалов : новости / А. Музис, Б. Ольшвангер, И. Таксар, и др. // Атомная энергия / АН СССР.- М. : Атомиздат, 1968. - Т. 24. - Вып. 4. - С. 405-406.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/handle/123456789/9900-
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherАтомиздатru
dc.subjectновый радиоизотопный методru
dc.subjectметод измерения малых толщин пленочных материаловru
dc.subjectРижский НИИru
dc.titleНовый радиоизотопный метод измерения малых толщин пленочных материаловru
dc.typeArticleru
dc.placeOfPublicationМоскваru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
41.pdf1.14 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.