1. Репозиторий УО "Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины"

Просмотр собрания по группе - Авт Сотская, Л.И.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
или введите несколько первых букв:  
Результаты 1 по 12 из 12
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2011Восстановление постоянных распространения мод волноводных пленок с учетом дифракционных эффектовСотский, А.Б.; Чудаковский, П.Я.; Примак, И.У.; Сотская, Л.И.
2001Интегрально-оптические датчики электрического поля на основе кристалла ниобата лития: теоретические аспекты чувствительностиСотский, А.Б.; Примак, И.У.; Сотская, Л.И.
2011О проблеме переходного слоя в спектральной эллипсометрииСтаськов, Н.И.; Ивашкевич, И.В.; Сотский, А.Б.; Сотская, Л.И.
2006Оптические характеристики естественного поверхностного слоя на кремниевой подложкеСтаськов, Н.И.; Сотский, А.Б.; Сотская, Л.И.; Ивашкевич, И.В.; Крекотень, Н.А.; Буйко, Л.Д.
2018Оптические характеристики пленок титаната бария на кварцевых подложкахСтаськов, Н.И.; Холов, П.А.; Сотская, Л.И.; Гапоненко, Н.В.; Крекотень, Н.А.
2016Пропускание метало-диэлектрического капилляра в терагерцовом диапазонеСотский, А.Б.; Шилов, А.В.; Сотская, Л.И.; Синицын, Г.В.
2023Распределение эрбия по толщине золь-гель пленок титаната барияСтаськов, Н.И.; Лашковская, Е.И.; Корнилова, Ю.Д.; Омельченко, А.А.; Пилипенко В. А.; Чудаков, Е.А.; Сотский, А.Б.; Сотская, Л.И.; Бойко, А.А.; Семченко, А.В.
2020Расчет волноводного зонда для терагерцовой спектроскопии слоистой средыМихеев, С.С.; Сотский, А.Б.; Назаров, М.М.; Сотская, Л.И.; Miheev, S.S.; Sotsky, A.B.; Nazarov, M.M.; Sotskaya, L.I.
2001Сверхразрешение при восстановлении профиля диэлектрической проницаемости оптического волновода по дальнему полю излучения модыСотская, Л.И.; Сотский, А.Б.
2018Спектрофотометрический метод определения оптических характеристик клиновидных пленок на стеклянных подложкахСтаськов, Н.И.; Сотская, Л.И.; Филиппов, В.В.; Шулицкий, Б.Г.; Кашко, И.А.
2016Структура поверхностных слоев на термически обработанных кремниевых пластинахСтаськов, Н.И.; Ивашкевич, И.В.; Сотская, Л.И.; Ещик, Т.Н.
2012Учёт влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрииСтаськов, Н.И.; Ивашкевич, И.В.; Сотский, А.Б.; Сотская, Л.И.
Результаты 1 по 12 из 12