Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Капшай, В.Н. | - |
dc.contributor.author | Толкачёв, А.И. | - |
dc.contributor.author | Шамына, А.А. | - |
dc.date.accessioned | 2020-09-14T10:35:45Z | - |
dc.date.available | 2020-09-14T10:35:45Z | - |
dc.date.issued | 2020 | - |
dc.identifier.citation | Капшай, В.Н. Отражение электромагнитной волны от двухслойной биизотропной структуры на отражающей подложке / В.Н. Капшай, А.И. Толкачёв, А.А. Шамына // Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины. Сер.: Естественные науки. - 2020. - № 3 (120). - С. 166-171. | ru |
dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/handle/123456789/11780 | - |
dc.description.abstract | Решена задача об отражении нормально падающей плоской циркулярно поляризованной электромагнитной волны от двухслойной биизотропной структуры на отражающей подложке тремя методами: матричным, рекуррентным и эквивалентным коэффициентов. Проведен численный и графический анализ полученных коэффициентов отражения в частном случае металлической подложки. Полученные зависимости от толщин биизотропных слоев имеют периодический характер, данные периоды найдены аналитически. Определены сочетания параметров задачи, при которых один или два биизотропных слоя не оказывают влияния на результирующий коэффициент отражения. The problem of reflection of a plane circularly polarized electromagnetic wave incident normally on a bilayer biisotropic structure on a reflecting substrate is solved by three methods: matrix, recurrence, and equivalent coefficient. Numerical and graphical analysis of the reflection coefficients obtained is performed in a particular case of a metal substrate. The obtained dependences on the thicknesses of biisotropic layers are periodic; these periods are found analytically. Combinations of parameters of the problem are determined at which one or two biisotropic layers do not affect the resulting reflection coefficient. | ru |
dc.language.iso | Русский | ru |
dc.publisher | Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины | ru |
dc.subject | биизотропная среда | ru |
dc.subject | коэффициент отражения | ru |
dc.subject | слоистая структура на подложке | ru |
dc.subject | матричный метод | ru |
dc.subject | рекуррентный метод | ru |
dc.subject | метод эквивалентных коэффициентов | ru |
dc.subject | biisotropic medium | ru |
dc.subject | reflection coefficient | ru |
dc.subject | periodic structure on a substrate | ru |
dc.subject | matrix method | ru |
dc.subject | recurrence method | ru |
dc.subject | equivalent coefficient method | ru |
dc.title | Отражение электромагнитной волны от двухслойной биизотропной структуры на отражающей подложке | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.identifier.udk | 537.874.2 | - |
dc.root | Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины | ru |
dc.placeOfPublication | Гомель | ru |
dc.series | Естественные науки | ru |
dc.number | № 3 (120) | ru |
Appears in Collections: | Известия ГГУ им. Франциска Скорины. Естественные науки |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Kapshai_Reflection_of_electromagnetic.pdf | 521.75 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.