Структурно-морфологические свойства слоев ZnSe/(Cu-In), полученных термическим испарением

Abstract

Получены тонкие пленки ZnSe/(Cu-In) последовательным термическим испарением соединения ZnSe и соиспарением Cu и In элементов. Исследование морфологии прекурсоров выявило поверхность, сформированную плотно упакованными мелкими кристаллитами с размерами 0.2–0.4 мкм и шероховатостью в пределах RA = 0.24–0.32 мкм. Consecutive thermal evaporation of ZnSe combination and Cu and In elements evaporation provide ZnSe/(Cu-In) thin films. Studying the morphology of precursors we reveal the surface generated by densely packed small crystalline particles with the size of 0.2–0.4 microns and roughness within RA = 0.24–0.32 microns.