Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Шкляревский, И.Н. | - |
| dc.contributor.author | А. Эль Шазли, А.Ф. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-08-04T12:17:55Z | - |
| dc.date.available | 2021-08-04T12:17:55Z | - |
| dc.date.issued | 1971 | - |
| dc.identifier.citation | Шкляревский, И.Н. Новый метод измерения дисперсии тонких диэлектрических слоев / И. Н. Шкляревский, А. Ф. А. Эль Шазли // Оптика и спектроскопия / АН СССР. - Т. XXXI, вып. 5. - 1971. - С. 807-810. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/25159 | - |
| dc.language.iso | Русский | ru |
| dc.publisher | Наука | ru |
| dc.title | Новый метод измерения дисперсии тонких диэлектрических слоев | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 535.321 | - |
| dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
| dc.edition | 5 | ru |
| dc.volume | XXXI | ru |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Shklyarevski.pdf | 6.47 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.