Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Житарюк, В.Г. | - |
| dc.contributor.author | Гуминецкий, С.Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2023-01-31T08:12:51Z | - |
| dc.date.available | 2023-01-31T08:12:51Z | - |
| dc.date.issued | 1982 | - |
| dc.identifier.citation | Житарюк, В.Г. О точности интерференционных методов определения оптических постоянных тонких слоев / В.Г. Житарюк, С.Г. Гуминецкий // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1982. – Т. 52, вып. 1. – С. 126-130. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/52873 | - |
| dc.description.abstract | С помощью ЭВМ проведен анализ возможных погрешностей, возникающих при использовании некоторых спектрофотометрических методов для нахождения коэффициента преломления, показателя поглощения и толщины тонких слоев, нанесенных на непоглощающую подложку. | ru |
| dc.language.iso | Русский | ru |
| dc.publisher | Наука | ru |
| dc.title | О точности интерференционных методов определения оптических постоянных тонких слоев | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 535.417:539.23 | - |
| dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
| dc.edition | 1 | ru |
| dc.volume | 52 | ru |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Житарюк_О_точности.pdf | 7.44 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.