Влияние неупругих столкновений с медленными электронами на возбуждение линий в He-Hg лазере с полым катодом

Abstract

На основе исследований временных характеристик спонтанного излучения линий и мощности генерации и данных о параметрах плазмы показано, что на населенность ионных уровней ртути существенное влияние оказывают процессы девозбуждения этих уровней за счет столкновений с медленными электронами плазмы разряда с полым катодом. Это обусловлено наличием в плазме большого числа низкоэнергетических электронов и вызывает насыщение инверсии на лазерных линиях 615 и 794 нм HgII во время протекания импульса тока. Учет девозбуждения, кроме того, позволил определить скорость накачки уровней и зарядовый состав плазмы.