Исследование отражательных свойств голограммных дифракционных решеток с симметричным профилем штрихов

Abstract

Приведены результаты теоретического и экспериментального исследований спектральных зависимостей коэффициента отражения голограммных дифракционных решеток с симметричным профилем штрихов. Для светочувствительных пленок фоторезиста, применяемых для регистрации голограммных решеток, характерно линейное изменение глубины рельефа от экспозиции, и поэтому форма профиля штрихов решеток, зарегистрированных на этом материале, близка к синусоиде. Найдены условия, при которых голограммные дифракционные решетки с синусоидальной и с искаженной синусоидальной формой штрихов характеризуются высоким коэффициентом отражения.