Восстановление профиля показателя преломления слабопреломляющих прозрачных неоднородностей

Abstract

Рассматривается применение теневого метода по схеме Теплера для диагностики осесимметричных объектов, когда необходимо учитывать волновую природу зондирующего излучения. Показано, что с помощью когерентного излучения можно восстонавливать профиль показателя преломления микрообъектов, когда дифракционное искажение волнового фронта превышает искажение за счет рефракции. Предложенный метод обработки позволяет получать количественную информацию о таких объектах, параметры которых находятся за пределами чувствительности классического метода Теплера. Проведена оценка чувствительности метода приминительно к измерению концентрации электронов в плазме.