Отражение электромагнитной волны от двухслойной биизотропной структуры на отражающей подложке

Abstract

Решена задача об отражении нормально падающей плоской циркулярно поляризованной электромагнитной волны от двухслойной биизотропной структуры на отражающей подложке тремя методами: матричным, рекуррентным и эквивалентным коэффициентов. Проведен численный и графический анализ полученных коэффициентов отражения в частном случае металлической подложки. Полученные зависимости от толщин биизотропных слоев имеют периодический характер, данные периоды найдены аналитически. Определены сочетания параметров задачи, при которых один или два биизотропных слоя не оказывают влияния на результирующий коэффициент отражения. The problem of reflection of a plane circularly polarized electromagnetic wave incident normally on a bilayer biisotropic structure on a reflecting substrate is solved by three methods: matrix, recurrence, and equivalent coefficient. Numerical and graphical analysis of the reflection coefficients obtained is performed in a particular case of a metal substrate. The obtained dependences on the thicknesses of biisotropic layers are periodic; these periods are found analytically. Combinations of parameters of the problem are determined at which one or two biisotropic layers do not affect the resulting reflection coefficient.