Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШкляревский, И. Н.-
dc.contributor.authorЭль-Шазли, А. Ф. А.-
dc.contributor.authorИдчак, Е.-
dc.date.accessioned2021-10-22T09:26:25Z-
dc.date.available2021-10-22T09:26:25Z-
dc.date.issued1972-
dc.identifier.citationШкляревский, И.Н. Эллипсометрический метод измерения дисперсии и толщины прозрачных пленок на металлической подложке / И. Н. Шкляревский, А. Ф. А. Эль-Шазли, Е. Идчак // Оптика и спектроскопия / АН СССР. - Ленинград : Наука, 1972. - Т. 33, вып. 6. - С. 1157-1161.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/28783-
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherНаукаru
dc.subjectдисперсияru
dc.subjectпрозрачные пленкиru
dc.titleЭллипсометрический метод измерения дисперсии и толщины прозрачных пленок на металлической подложкеru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk535.51.06 : 535.32-
dc.placeOfPublicationЛенинградru
dc.edition6ru
dc.volume33ru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Шкляревский_Эллипсометрический.pdf7.85 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.