Название: Эллипсометрический метод измерения дисперсии и толщины прозрачных пленок на металлической подложке
Авторы: Шкляревский, И. Н.
Эль-Шазли, А. Ф. А.
Идчак, Е.
Ключевые слова: дисперсия
прозрачные пленки
Дата публикации: 1972
Издательство: Наука
Библиографическое описание: Шкляревский, И.Н. Эллипсометрический метод измерения дисперсии и толщины прозрачных пленок на металлической подложке / И. Н. Шкляревский, А. Ф. А. Эль-Шазли, Е. Идчак // Оптика и спектроскопия / АН СССР. - Ленинград : Наука, 1972. - Т. 33, вып. 6. - С. 1157-1161.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/28783
Располагается в коллекциях:Оцифрованный фонд

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Шкляревский_Эллипсометрический.pdf7.85 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.