Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Пророк, В.В. | - |
| dc.contributor.author | Шайкевич, И.А. | - |
| dc.date.accessioned | 2022-12-20T13:33:20Z | - |
| dc.date.available | 2022-12-20T13:33:20Z | - |
| dc.date.issued | 1980 | - |
| dc.identifier.citation | Пророк, В.В. Об интерферометрическом измерении толщин очень тонких пленок / В.В. Пророк, И.А. Шайкевич // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1980. – Т. 49, вып. 1. – С. 122-125. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50043 | - |
| dc.description.abstract | Показано, что метод определения толщины тонкой пленки, при котором на царапину в пленке наносится толстый слой высокоотражающего металла и затем интерференционным методом измеряется глубина образовавшейся канавки, позволяет измерить массовую толщину пленки. | ru |
| dc.language.iso | Русский | ru |
| dc.publisher | Наука | ru |
| dc.title | Об интерферометрическом измерении толщин очень тонких пленок | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 539.238+535.417 | - |
| dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
| dc.edition | 1 | ru |
| dc.volume | 49 | ru |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Пророк_Об_интерферометрическом.pdf | 5.42 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.