| Название: | Об интерферометрическом измерении толщин очень тонких пленок |
| Авторы: | Пророк, В.В. Шайкевич, И.А. |
| Дата публикации: | 1980 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Пророк, В.В. Об интерферометрическом измерении толщин очень тонких пленок / В.В. Пророк, И.А. Шайкевич // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1980. – Т. 49, вып. 1. – С. 122-125. |
| Краткий осмотр (реферат): | Показано, что метод определения толщины тонкой пленки, при котором на царапину в пленке наносится толстый слой высокоотражающего металла и затем интерференционным методом измеряется глубина образовавшейся канавки, позволяет измерить массовую толщину пленки. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50043 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Пророк_Об_интерферометрическом.pdf | 5.42 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.