Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКрылова, Т.Н.-
dc.contributor.authorБохонская, И.Ф.-
dc.contributor.authorКарапетян, Г.А.-
dc.date.accessioned2022-12-27T12:37:10Z-
dc.date.available2022-12-27T12:37:10Z-
dc.date.issued1980-
dc.identifier.citationКрылова, Т.Н. Измерение прозрачных пленок на поверхности стекла эллипсометрическим и спектрофотометрическим методами / Т.Н. Крылова, И.Ф. Бохонская, Г.А. Карапетян // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1980. – Т. 49, вып. 4. – С. 802-808.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50770-
dc.description.abstractС помощью эллипсометрического и спектрофотометрического методов выполнены измерения толщины и показателя преломления тонких слоев окислов разного показателя преломления толщиной 100-6000 Å, полученных нанесением из гидролизующихся растворов, а также путем выщелачивания поверхности стекла.ru
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherНаукаru
dc.titleИзмерение прозрачных пленок на поверхности стекла эллипсометрическим и спектрофотометрическим методамиru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk535.32:539.238-
dc.placeOfPublicationЛенинградru
dc.edition4ru
dc.volume49ru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Крылова_Измерение.pdf11.01 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.