Название: Измерение прозрачных пленок на поверхности стекла эллипсометрическим и спектрофотометрическим методами
Авторы: Крылова, Т.Н.
Бохонская, И.Ф.
Карапетян, Г.А.
Дата публикации: 1980
Издательство: Наука
Библиографическое описание: Крылова, Т.Н. Измерение прозрачных пленок на поверхности стекла эллипсометрическим и спектрофотометрическим методами / Т.Н. Крылова, И.Ф. Бохонская, Г.А. Карапетян // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1980. – Т. 49, вып. 4. – С. 802-808.
Краткий осмотр (реферат): С помощью эллипсометрического и спектрофотометрического методов выполнены измерения толщины и показателя преломления тонких слоев окислов разного показателя преломления толщиной 100-6000 Å, полученных нанесением из гидролизующихся растворов, а также путем выщелачивания поверхности стекла.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50770
Располагается в коллекциях:Оцифрованный фонд

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Крылова_Измерение.pdf11.01 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.