DSpace JSPUI
DSpace сохраняет и позволяет легкий и открытый доступ ко всем видам цифрового контента, включая текст, изображения, анимированные изображения, MPEG и наборы данных
Узнать больше
Просмотр собрания по группе - Авт Яковлев, В.А.
Результаты 1 по 12 из 12
Дата выпуска | Название | Автор(ы) |
1984 | Брэгговское отражение поверхностных электромагнитных волн ИК диапазона от дифракционной решетки | Жижин, Г.Н.; Силин, В.И.; Сычугов, В.А.; Хакимов, А.А.; Яковлев, В.А. |
1984 | Влияние тонких слоев Ag на ИК спектры поглощения пленок Лэнгмюра - Блоджетт стеариновой кислоты и стеарата бария, измеренные методом МНПВО | Сигарев, А.А.; Яковлев, В.А. |
1981 | Восстановление статистических характеристик случайного светового поля в условиях многократного рассеяния | Тибилов, А.С.; Яковлев, В.А. |
1979 | Монохроматическая волна в усиливающей двухуровневой системе | Коленкин, М.Ю.; Яковлев, В.А.; Яковлев, С,В. |
1984 | Определение статистических характеристик случайной поверхности методом оптической локации | Зурабян, А.З.; Тибилов, А.С.; Яковлев, В.А. |
1979 | Оптические свойства пленок ɛ-GaSe в длинноволновой ИК области спектра. Влияние металлической подложки | Бурлаков, В.М.; Виноградов, Е.А.; Жижин, Г.Н.; Рзаев, Д.А.; Яковлев, В.А. |
1980 | Поглощение поверхностных электромагнитных волн лэнгмюровскими пленками на поверхности меди | Жижин, Г.Н.; Морозов, Н.Н.; Москалева, М.А.; Сигарев, А.А.; Шомина, Е.В.; Яковлев, В.А.; Григос, В.И. |
1980 | Поиски оптимальных условий призменного преобразования поверхностных электромагнитных волн ИК диапазона | Жижин, Г.Н.; Москалева, М.А.; Шомина, Е.В.; Яковлев, В.А. |
1982 | Применение Фурье-спектрометрии для излучения тонких пленок с помощью поверхностных электромагнитных волн | Жижин, Г.Н.; Сигарев, А.А.; Москалева, М.А.; Яковлев, В.А. |
1986 | Рассеяние света свободной поверхностью жидкости в области ее сильного собственного поглощения | Алешин, И.В.; Софинский, А.В.; Тибилов, А.С.; Яковлев, В.А. |
1983 | Спектральные особенности возбуждения Поверхностных электромагнитных волн при использовании решеточных элементов согласования | Жижин, Г.Н.; Москалева, М.А.; Сигарев, А.А.; Яковлев, В.А. |
1982 | Эллипсометрический метод определения параметров тонкой изотропной прозрачной пленки на анизотропной поверхности, учитывающие малые приборные ошибки | Яковлев, В.А. |