1. Репозиторий УО "Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины"

Browsing by Author Стаськов, Н.И.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 12 of 12
Issue DateTitleAuthor(s)
2015Аналитическое решение обратной задачи спектрофотометрии для поглощающего слоя на поглощающей подложке с диэлектрическим слоемСтаськов, Н.И.; Парашков, С.О.; Шилов, А.В.; Крекотень, Н.А.
2015Аналитическое решение обратной спектрофотометрической задачи для прозрачного слоя на поглощающей подложкеСтаськов, Н.И.
1980К учету переходного слоя в методе НПВОГусев, С.С.; Стаськов, Н.И.; Филиппов, В.В.
2011О проблеме переходного слоя в спектральной эллипсометрииСтаськов, Н.И.; Ивашкевич, И.В.; Сотский, А.Б.; Сотская, Л.И.
2006Оптические характеристики естественного поверхностного слоя на кремниевой подложкеСтаськов, Н.И.; Сотский, А.Б.; Сотская, Л.И.; Ивашкевич, И.В.; Крекотень, Н.А.; Буйко, Л.Д.
2018Оптические характеристики пленок титаната бария на кварцевых подложкахСтаськов, Н.И.; Холов, П.А.; Сотская, Л.И.; Гапоненко, Н.В.; Крекотень, Н.А.
2011Спектральная эллипсометрия полупроводниковых слоев на одноосных подложкахСтаськов, Н.И.; Ивашкевич, И.В.
2018Спектрофотометрический метод определения оптических характеристик клиновидных пленок на стеклянных подложкахСтаськов, Н.И.; Сотская, Л.И.; Филиппов, В.В.; Шулицкий, Б.Г.; Кашко, И.А.
2016Спектрофотометрия структуры: пленка FTO–стеклянная пластинаСтаськов, Н.И.; Филиппов, В.В.; Шулицкий, Б.Г.
2016Структура поверхностных слоев на термически обработанных кремниевых пластинахСтаськов, Н.И.; Ивашкевич, И.В.; Сотская, Л.И.; Ещик, Т.Н.
2012Учёт влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрииСтаськов, Н.И.; Ивашкевич, И.В.; Сотский, А.Б.; Сотская, Л.И.
2013Эллипсометрия переходных слоев полупроводник-диэлектрикСтаськов, Н.И.; Ивашкевич, И.В.; Крекотень, Н.А.; Stas’kov, N.I.; Ivashkevich, I.V.; Krekoten, N.A.
Showing results 1 to 12 of 12