Репозиторий УО "Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины": Browsing DSpace

Browsing by Author Яковлев, В.А.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:

Showing results 1 to 12 of 12

Issue Date	Title	Author(s)
1984	Брэгговское отражение поверхностных электромагнитных волн ИК диапазона от дифракционной решетки	Жижин, Г.Н.; Силин, В.И.; Сычугов, В.А.; Хакимов, А.А.; Яковлев, В.А.
1984	Влияние тонких слоев Ag на ИК спектры поглощения пленок Лэнгмюра - Блоджетт стеариновой кислоты и стеарата бария, измеренные методом МНПВО	Сигарев, А.А.; Яковлев, В.А.
1981	Восстановление статистических характеристик случайного светового поля в условиях многократного рассеяния	Тибилов, А.С.; Яковлев, В.А.
1979	Монохроматическая волна в усиливающей двухуровневой системе	Коленкин, М.Ю.; Яковлев, В.А.; Яковлев, С,В.
1984	Определение статистических характеристик случайной поверхности методом оптической локации	Зурабян, А.З.; Тибилов, А.С.; Яковлев, В.А.
1979	Оптические свойства пленок ɛ-GaSe в длинноволновой ИК области спектра. Влияние металлической подложки	Бурлаков, В.М.; Виноградов, Е.А.; Жижин, Г.Н.; Рзаев, Д.А.; Яковлев, В.А.
1980	Поглощение поверхностных электромагнитных волн лэнгмюровскими пленками на поверхности меди	Жижин, Г.Н.; Морозов, Н.Н.; Москалева, М.А.; Сигарев, А.А.; Шомина, Е.В.; Яковлев, В.А.; Григос, В.И.
1980	Поиски оптимальных условий призменного преобразования поверхностных электромагнитных волн ИК диапазона	Жижин, Г.Н.; Москалева, М.А.; Шомина, Е.В.; Яковлев, В.А.
1982	Применение Фурье-спектрометрии для излучения тонких пленок с помощью поверхностных электромагнитных волн	Жижин, Г.Н.; Сигарев, А.А.; Москалева, М.А.; Яковлев, В.А.
1986	Рассеяние света свободной поверхностью жидкости в области ее сильного собственного поглощения	Алешин, И.В.; Софинский, А.В.; Тибилов, А.С.; Яковлев, В.А.
1983	Спектральные особенности возбуждения Поверхностных электромагнитных волн при использовании решеточных элементов согласования	Жижин, Г.Н.; Москалева, М.А.; Сигарев, А.А.; Яковлев, В.А.
1982	Эллипсометрический метод определения параметров тонкой изотропной прозрачной пленки на анизотропной поверхности, учитывающие малые приборные ошибки	Яковлев, В.А.

Showing results 1 to 12 of 12