Browsing by Author Яковлев, В.А.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 13 of 13
Issue DateTitleAuthor(s)
1984Брэгговское отражение поверхностных электромагнитных волн ИК диапазона от дифракционной решеткиЖижин, Г.Н.; Силин, В.И.; Сычугов, В.А.; Хакимов, А.А.; Яковлев, В.А.
1984Влияние тонких слоев Ag на ИК спектры поглощения пленок Лэнгмюра - Блоджетт стеариновой кислоты и стеарата бария, измеренные методом МНПВОСигарев, А.А.; Яковлев, В.А.
1981Восстановление статистических характеристик случайного светового поля в условиях многократного рассеянияТибилов, А.С.; Яковлев, В.А.
1970Исследование начальной стадии газодинамического разлета плазмы лазерного факелаБасов, Н.Г.; Бойко, В.А.; Дрожбин, Ю.А.; Захаров, С.М.; Крохин, О.Н.; Склизков, Г.В.; Яковлев, В.А.
1979Монохроматическая волна в усиливающей двухуровневой системеКоленкин, М.Ю.; Яковлев, В.А.; Яковлев, С,В.
1984Определение статистических характеристик случайной поверхности методом оптической локацииЗурабян, А.З.; Тибилов, А.С.; Яковлев, В.А.
1979Оптические свойства пленок ɛ-GaSe в длинноволновой ИК области спектра. Влияние металлической подложкиБурлаков, В.М.; Виноградов, Е.А.; Жижин, Г.Н.; Рзаев, Д.А.; Яковлев, В.А.
1980Поглощение поверхностных электромагнитных волн лэнгмюровскими пленками на поверхности медиЖижин, Г.Н.; Морозов, Н.Н.; Москалева, М.А.; Сигарев, А.А.; Шомина, Е.В.; Яковлев, В.А.; Григос, В.И.
1980Поиски оптимальных условий призменного преобразования поверхностных электромагнитных волн ИК диапазонаЖижин, Г.Н.; Москалева, М.А.; Шомина, Е.В.; Яковлев, В.А.
1982Применение Фурье-спектрометрии для излучения тонких пленок с помощью поверхностных электромагнитных волнЖижин, Г.Н.; Сигарев, А.А.; Москалева, М.А.; Яковлев, В.А.
1986Рассеяние света свободной поверхностью жидкости в области ее сильного собственного поглощенияАлешин, И.В.; Софинский, А.В.; Тибилов, А.С.; Яковлев, В.А.
1983Спектральные особенности возбуждения Поверхностных электромагнитных волн при использовании решеточных элементов согласованияЖижин, Г.Н.; Москалева, М.А.; Сигарев, А.А.; Яковлев, В.А.
1982Эллипсометрический метод определения параметров тонкой изотропной прозрачной пленки на анизотропной поверхности, учитывающие малые приборные ошибкиЯковлев, В.А.