1. Репозиторий УО "Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины"
  2. Библиотека ГГУ
  3. Оцифрованный фонд
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГолеминов, Н.Г.-
dc.contributor.authorИванов, В.И.-
dc.contributor.authorКрамер-Агеев, Е.А.-
dc.date.accessioned2021-05-29T07:19:39Z-
dc.date.available2021-05-29T07:19:39Z-
dc.date.issued1981-
dc.identifier.citationГолеминов, Н.Г. Микродозиметрический подход к анализу отказов в системах однотипных полупроводниковых приборов при нейтронном облучении / Н. Г. Големинов, В. И. Иванов, Е. А. Крамер-Агеев // Атомная энергия / АН СССР. - М. : Атомиздат, 1980. - Т. 49, вып. 6. - С. 373-374.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/22637-
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherАтомиздатru
dc.subjectсистема однотипных полупроводниковых приборовru
dc.subjectнейтронное облучениеru
dc.subjectмикродозиметрический подходru
dc.subjectанализ отказовru
dc.titleМикродозиметрический подход к анализу отказов в системах однотипных полупроводниковых приборов при нейтронном облученииru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk621.3.019.39-
dc.placeOfPublicationМоскваru
dc.edition6ru
dc.volume49ru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Goleminov_Mikrodozimetricheskij.pdf3.46 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.