| Название: | Микродозиметрический подход к анализу отказов в системах однотипных полупроводниковых приборов при нейтронном облучении |
| Авторы: | Големинов, Н.Г. Иванов, В.И. Крамер-Агеев, Е.А. |
| Ключевые слова: | система однотипных полупроводниковых приборов нейтронное облучение микродозиметрический подход анализ отказов |
| Дата публикации: | 1981 |
| Издательство: | Атомиздат |
| Библиографическое описание: | Големинов, Н.Г. Микродозиметрический подход к анализу отказов в системах однотипных полупроводниковых приборов при нейтронном облучении / Н. Г. Големинов, В. И. Иванов, Е. А. Крамер-Агеев // Атомная энергия / АН СССР. - М. : Атомиздат, 1980. - Т. 49, вып. 6. - С. 373-374. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/22637 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Goleminov_Mikrodozimetricheskij.pdf | 3.46 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.