| Title: | Микродозиметрический подход к анализу отказов в системах однотипных полупроводниковых приборов при нейтронном облучении |
| Authors: | Големинов, Н.Г. Иванов, В.И. Крамер-Агеев, Е.А. |
| Keywords: | система однотипных полупроводниковых приборов нейтронное облучение микродозиметрический подход анализ отказов |
| Issue Date: | 1981 |
| Publisher: | Атомиздат |
| Citation: | Големинов, Н.Г. Микродозиметрический подход к анализу отказов в системах однотипных полупроводниковых приборов при нейтронном облучении / Н. Г. Големинов, В. И. Иванов, Е. А. Крамер-Агеев // Атомная энергия / АН СССР. - М. : Атомиздат, 1980. - Т. 49, вып. 6. - С. 373-374. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/22637 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Goleminov_Mikrodozimetricheskij.pdf | 3.46 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.