Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Рыбалка, А.И. | - |
| dc.contributor.author | Шкляревский, И.Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-12-15T07:55:20Z | - |
| dc.date.available | 2021-12-15T07:55:20Z | - |
| dc.date.issued | 1973 | - |
| dc.identifier.citation | Рыбалка, А.И. Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке / А.И. Рыбалка, И.Н. Шкляревский // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1973. – Т. 35, вып. 6. – С. 1177-1179. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/31487 | - |
| dc.language.iso | Русский | ru |
| dc.publisher | Наука | ru |
| dc.subject | металлическая подложка | ru |
| dc.subject | двухслойное покрытие | ru |
| dc.subject | эллипсометрия | ru |
| dc.subject | амплитуда | ru |
| dc.title | Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 535.32+535.34.62-416 | - |
| dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
| dc.edition | 6 | ru |
| dc.volume | 35 | ru |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Рыбалка_Эллипсометрия.pdf | 5.13 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.