| Название: | Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке |
| Авторы: | Рыбалка, А.И. Шкляревский, И.Н. |
| Ключевые слова: | металлическая подложка двухслойное покрытие эллипсометрия амплитуда |
| Дата публикации: | 1973 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Рыбалка, А.И. Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке / А.И. Рыбалка, И.Н. Шкляревский // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1973. – Т. 35, вып. 6. – С. 1177-1179. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/31487 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Рыбалка_Эллипсометрия.pdf | 5.13 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.