Нелокальный машинный метод синтеза интерференционных оптических покрытий

Abstract

Предложен новый метод расчета интерференционных покрытий с заданными оптическими характеристиками при помощи ЭВМ. Метод может применяться для выбора оптимальных значений параметров любых объектов, показатель качества которых может быть определен независимо от самого управляемого объекта при помощи иденти-фактора (аналогового устройства или ЦЭВМ).