Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСвиташев, К.К.-
dc.contributor.authorСемененко, А.И.-
dc.contributor.authorСемененко, Л.В.-
dc.contributor.authorСоколов, В.К.-
dc.contributor.authorФилатова, Е.С.-
dc.date.accessioned2022-04-18T13:03:45Z-
dc.date.available2022-04-18T13:03:45Z-
dc.date.issued1977-
dc.identifier.citationО точности и чувствительности метода эллипсометрии / К.К. Свиташев [и др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1977. – Т. 42, вып. 6. – С. 1142-1147.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/37737-
dc.description.abstractРассмотрен вопрос о влиянии соотношения между амплитудными коэффициентами отражения света исследуемым образцом для s- и p-поляризованного светового пучка и неоднородности исследуемого образца на пороговую чувствительность эллипсометрии.ru
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherНаукаru
dc.titleО точности и чувствительности метода эллипсометрииru
dc.typeArticleru
dc.placeOfPublicationЛенинградru
dc.edition6ru
dc.volume42ru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Свиташев_О_точности.pdf8.68 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.