Title: Анализ и обработка СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ
Authors: Чернякова, К.В.
Карпич, Р.
Врублевский, И.А.
Issue Date: 2016
Publisher: Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины
Citation: Чернякова, К.В. Анализ и обработка СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ / К.В. Чернякова, Р. Карпич, И.А. Врублевский // Проблемы взаимодействия излучения с веществом : IV Республиканская научная конференция, посвященная 90-летию со дня рождения Б. В. Бокутя (Гомель, 9–11 ноября 2016 г.) : материалы : в 2 ч. Ч. 2. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2016. – С. 179-183.
URI: http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/37757
Appears in Collections:Статьи

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Чернякова_Анализ.pdf541.55 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.