Название: Анализ и обработка СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ
Авторы: Чернякова, К.В.
Карпич, Р.
Врублевский, И.А.
Дата публикации: 2016
Издательство: Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины
Библиографическое описание: Чернякова, К.В. Анализ и обработка СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ / К.В. Чернякова, Р. Карпич, И.А. Врублевский // Проблемы взаимодействия излучения с веществом : IV Республиканская научная конференция, посвященная 90-летию со дня рождения Б. В. Бокутя (Гомель, 9–11 ноября 2016 г.) : материалы : в 2 ч. Ч. 2. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2016. – С. 179-183.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/37757
Располагается в коллекциях:Статьи

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Чернякова_Анализ.pdf541.55 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.