Название: | Анализ и обработка СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ |
Авторы: | Чернякова, К.В. Карпич, Р. Врублевский, И.А. |
Дата публикации: | 2016 |
Издательство: | Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины |
Библиографическое описание: | Чернякова, К.В. Анализ и обработка СЭМ-изображений поверхности пленок нанопористого оксида алюминия с помощью ImageJ / К.В. Чернякова, Р. Карпич, И.А. Врублевский // Проблемы взаимодействия излучения с веществом : IV Республиканская научная конференция, посвященная 90-летию со дня рождения Б. В. Бокутя (Гомель, 9–11 ноября 2016 г.) : материалы : в 2 ч. Ч. 2. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2016. – С. 179-183. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/37757 |
Располагается в коллекциях: | Статьи |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Чернякова_Анализ.pdf | 541.55 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.