Название: Фотоакустический анализ неоднородных субмикронных полупроводниковых структур: импульсный режим облучения
Авторы: Бурбело, Р.М.
Исаев, Н.В.
Кузьмич, А.Г.
Курылюк, В.В.
Дата публикации: 2011
Издательство: Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины
Библиографическое описание: Фотоакустический анализ неоднородных субмикронных полупроводниковых структур: импульсный режим облучения / Р.М. Бурдело [и др.] // Проблемы взаимодействия излучения с веществом : III Международная научная конференция, посвященная 85-летию со дня рождения Б. В. Бокутя (Гомель, 9–11 ноября 2011 г.). В 2 ч. Ч. 1 / редкол.: А.В. Рогачев (гл. ред.) [и др.] ; М-во образования Республики Беларусь и др. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2011. – С. 15-20.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/38245
Располагается в коллекциях:Статьи

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Бурбело_Фотоакустический.pdf389.37 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.