1. Репозиторий УО "Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины"
  2. Периодические издания университета
  3. Проблемы физики, математики, техники
  4. Проблемы физики, математики, техники. Физика
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСидский, В.В.-
dc.contributor.authorСемченко, А.В.-
dc.contributor.authorРыбаков, А.Г.-
dc.contributor.authorКолос, В.В.-
dc.contributor.authorТурцевич, А.С.-
dc.contributor.authorSidsky, V.V.-
dc.contributor.authorSemchenko, A.V.-
dc.contributor.authorRybаkov, A.G.-
dc.contributor.authorKolos, V.V.-
dc.contributor.authorTurtsevych, A.S.-
dc.date.accessioned2022-05-20T08:38:33Z-
dc.date.available2022-05-20T08:38:33Z-
dc.date.issued2014-
dc.identifier.citationВлияние температуры отжига и типа примеси на размер наночастиц в пленках SrBi₂(TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉ / В.В. Сидский [и др.] // Проблемы физики, математики и техники. Сер.: Физика. - 2014. - № 3 (20). - С. 37-41.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/40318-
dc.description.abstractВ работе приведены данные по установлению влияния примеси Nb, La и температуры отжига на структурные характеристики слоёв SrBi₂ (TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉. В качестве методов исследования использовались атомно-силовая микроскопия и метод дифракции рентгеновских лучей. The data of the influence of the impurity Nb, La and annealing temperature on the structural characteristics of the layers SrBi₂ (TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉ are discussed. As research methods the atomic force microscopy and X-ray diffraction method were used.ru
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherГомельский государственный университет имени Ф. Скориныru
dc.subjectзоль-гель методru
dc.subjectсегнетоэлектрикru
dc.subjectзольru
dc.subjectтермообработкаru
dc.subjectSBT-плёнкаru
dc.subjectперовскитru
dc.subjectметод рентгеноструктурного анализаru
dc.subjectметод атомно-силовой микроскопииru
dc.subjectsol-gel methodru
dc.subjectferroelectric solru
dc.subjectheat treatmentru
dc.subjectSBT-film perovskiteru
dc.subjectX-ray diffraction methodru
dc.subjectmethod of atomic force microscopyru
dc.titleВлияние температуры отжига и типа примеси на размер наночастиц в пленках SrBi₂(TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉ru
dc.title.alternativeEffect of the annealing temperature and type of impurities on the size of the nanoparticles SrBi₂(TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉ru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk546.3-
dc.rootПроблемы физики, математики и техникиru
dc.placeOfPublicationГомельru
dc.seriesФизикаru
dc.number3 (20)ru
Appears in Collections:Проблемы физики, математики, техники. Физика

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Сидский_2014-3.pdf4.7 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.