| Название: | Влияние температуры отжига и типа примеси на размер наночастиц в пленках SrBi₂(TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉ |
| Другие названия: | Effect of the annealing temperature and type of impurities on the size of the nanoparticles SrBi₂(TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉ |
| Авторы: | Сидский, В.В. Семченко, А.В. Рыбаков, А.Г. Колос, В.В. Турцевич, А.С. Sidsky, V.V. Semchenko, A.V. Rybаkov, A.G. Kolos, V.V. Turtsevych, A.S. |
| Ключевые слова: | золь-гель метод сегнетоэлектрик золь термообработка SBT-плёнка перовскит метод рентгеноструктурного анализа метод атомно-силовой микроскопии sol-gel method ferroelectric sol heat treatment SBT-film perovskite X-ray diffraction method method of atomic force microscopy |
| Дата публикации: | 2014 |
| Издательство: | Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины |
| Библиографическое описание: | Влияние температуры отжига и типа примеси на размер наночастиц в пленках SrBi₂(TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉ / В.В. Сидский [и др.] // Проблемы физики, математики и техники. Сер.: Физика. - 2014. - № 3 (20). - С. 37-41. |
| Краткий осмотр (реферат): | В работе приведены данные по установлению влияния примеси Nb, La и температуры отжига на структурные характеристики слоёв SrBi₂ (TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉. В качестве методов исследования использовались атомно-силовая микроскопия и метод дифракции рентгеновских лучей. The data of the influence of the impurity Nb, La and annealing temperature on the structural characteristics of the layers SrBi₂ (TaᵪМе₁₋ᵪ)₂O₉ are discussed. As research methods the atomic force microscopy and X-ray diffraction method were used. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/40318 |
| Располагается в коллекциях: | Проблемы физики, математики, техники. Физика |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Сидский_2014-3.pdf | 4.7 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.