Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДерюгин, Л.Н.-
dc.contributor.authorЗайцев, С.В.-
dc.contributor.authorЧекан, А.В.-
dc.date.accessioned2022-07-28T09:22:00Z-
dc.date.available2022-07-28T09:22:00Z-
dc.date.issued1979-
dc.identifier.citationДерюгин, Л.Н. Исследование неоднородности по толщине тонкопленочных оптических диэлектрических волноводов с излучающей дифракционной решеткой / Л.Н. Дерюгин, С.В. Зайцев, А.В. Чекан // Оптика и спектроскопия / АН СССР. - Ленинград : Наука, 1979. - Т. 47, вып. 2. - С.380-384.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/44312-
dc.description.abstractРассматривается разностный метод измерения малых неоднородностей по толщине тонкопленочных оптических волноводов. Метод основан на измерении фазовых распределений полей излучения двух волноводных мод на излучающей апертуре тонкопленочного волновода с дифракционной решеткой.ru
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherНаукаru
dc.titleИсследование неоднородности по толщине тонкопленочных оптических диэлектрических волноводов с излучающей дифракционной решеткойru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk539.238+621.372.8-
dc.rootОптика и спектроскопияru
dc.placeOfPublicationЛенинградru
dc.edition2ru
dc.volume47ru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Дерюгин_Исследование.pdf8.05 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.