| Title: | Исследование неоднородности по толщине тонкопленочных оптических диэлектрических волноводов с излучающей дифракционной решеткой |
| Authors: | Дерюгин, Л.Н. Зайцев, С.В. Чекан, А.В. |
| Issue Date: | 1979 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Дерюгин, Л.Н. Исследование неоднородности по толщине тонкопленочных оптических диэлектрических волноводов с излучающей дифракционной решеткой / Л.Н. Дерюгин, С.В. Зайцев, А.В. Чекан // Оптика и спектроскопия / АН СССР. - Ленинград : Наука, 1979. - Т. 47, вып. 2. - С.380-384. |
| Abstract: | Рассматривается разностный метод измерения малых неоднородностей по толщине тонкопленочных оптических волноводов. Метод основан на измерении фазовых распределений полей излучения двух волноводных мод на излучающей апертуре тонкопленочного волновода с дифракционной решеткой. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/44312 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Дерюгин_Исследование.pdf | 8.05 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.