Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАсатрян, Г.Г.-
dc.contributor.authorЛаухе, Ю.-
dc.contributor.authorТаиров, Ю.М.-
dc.contributor.authorЦветков, В.Ф.-
dc.date.accessioned2022-11-17T08:17:11Z-
dc.date.available2022-11-17T08:17:11Z-
dc.date.issued1979-
dc.identifier.citationАнализ точности и чувствительности эллипсометрического метода при измерениях на монокристаллах карбида кремния / Г.Г. Асатрян, Ю. Лаухе, Ю.М. Таиров, В.Ф. Цветков // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1979 – Т. 47, вып. 5. – С. 986-988.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/47193-
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherНаукаru
dc.titleАнализ точности и чувствительности эллипсометрического метода при измерениях на монокристаллах карбида кремнияru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk535.51-
dc.placeOfPublicationЛенинградru
dc.edition5ru
dc.volume47ru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Асатрян_Анализ.pdf5.16 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.