Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Асатрян, Г.Г. | - |
dc.contributor.author | Лаухе, Ю. | - |
dc.contributor.author | Таиров, Ю.М. | - |
dc.contributor.author | Цветков, В.Ф. | - |
dc.date.accessioned | 2022-11-17T08:17:11Z | - |
dc.date.available | 2022-11-17T08:17:11Z | - |
dc.date.issued | 1979 | - |
dc.identifier.citation | Анализ точности и чувствительности эллипсометрического метода при измерениях на монокристаллах карбида кремния / Г.Г. Асатрян, Ю. Лаухе, Ю.М. Таиров, В.Ф. Цветков // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1979 – Т. 47, вып. 5. – С. 986-988. | ru |
dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/47193 | - |
dc.language.iso | Русский | ru |
dc.publisher | Наука | ru |
dc.title | Анализ точности и чувствительности эллипсометрического метода при измерениях на монокристаллах карбида кремния | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.identifier.udk | 535.51 | - |
dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
dc.edition | 5 | ru |
dc.volume | 47 | ru |
Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Асатрян_Анализ.pdf | 5.16 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.