| Название: | Анализ точности и чувствительности эллипсометрического метода при измерениях на монокристаллах карбида кремния |
| Авторы: | Асатрян, Г.Г. Лаухе, Ю. Таиров, Ю.М. Цветков, В.Ф. |
| Дата публикации: | 1979 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Анализ точности и чувствительности эллипсометрического метода при измерениях на монокристаллах карбида кремния / Г.Г. Асатрян, Ю. Лаухе, Ю.М. Таиров, В.Ф. Цветков // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1979 – Т. 47, вып. 5. – С. 986-988. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/47193 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Асатрян_Анализ.pdf | 5.16 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.