| Title: | Разработка методик контроля деградации тока- стока МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей |
| Authors: | Жуков, А.П. Петлицкий, А.Н. |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины |
| Citation: | Жуков, А.П. Разработка методик контроля деградации тока- стока МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей / А.П. Жуков ; науч. рук. А.Н. Петлицкий // Актуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс]: VII Республиканская научная конференция студентов, магистрантов и аспирантов (Гомель, 25 апреля 2018 г.): материалы: в 3 ч. – Гомель: ГГУ им. Ф. Скорины, 2018. – Ч. 1. – С. 89-90. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50245 |
| Appears in Collections: | Статьи |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Жуков_Разработка.pdf | 280.93 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.