Название: | Разработка методик контроля деградации тока- стока МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей |
Авторы: | Жуков, А.П. Петлицкий, А.Н. |
Дата публикации: | 2018 |
Издательство: | Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины |
Библиографическое описание: | Жуков, А.П. Разработка методик контроля деградации тока- стока МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей / А.П. Жуков ; науч. рук. А.Н. Петлицкий // Актуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс]: VII Республиканская научная конференция студентов, магистрантов и аспирантов (Гомель, 25 апреля 2018 г.): материалы: в 3 ч. – Гомель: ГГУ им. Ф. Скорины, 2018. – Ч. 1. – С. 89-90. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50245 |
Располагается в коллекциях: | Статьи |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Жуков_Разработка.pdf | 280.93 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.