Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Емельянов, В.В. | - |
dc.date.accessioned | 2022-12-27T06:20:07Z | - |
dc.date.available | 2022-12-27T06:20:07Z | - |
dc.date.issued | 2022 | - |
dc.identifier.citation | Емельянов, В.В. Повышение селективности травления нитрида кремния к диоксиду кремния субмикронных интегральных схем / В.В. Емельянов // Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины. Сер.: Естественные науки. - 2022. - № 6 (135). - С. 114-117. | ru |
dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50654 | - |
dc.description.abstract | В работе представлены решение для повышения селективности травления нитрида кремния, полученного химическим осаждением из парогазовой фазы, по отношению к термическому диоксиду кремния. = The paper presents a solution for increasing the selectivity of etching of silicon nitride obtained by chemical vapor deposition with respect to thermal silicon dioxide. | ru |
dc.language.iso | Русский | ru |
dc.publisher | Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины | ru |
dc.subject | реактивно-ионное травление | ru |
dc.subject | нитрид кремния | ru |
dc.subject | диоксид кремния | ru |
dc.subject | микроэлектроника | ru |
dc.subject | reactive ion etching | ru |
dc.subject | silicon nitride | ru |
dc.subject | silicon dioxide | ru |
dc.subject | microelectronics | ru |
dc.title | Повышение селективности травления нитрида кремния к диоксиду кремния субмикронных интегральных схем | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.identifier.udk | 537:621.3.049.774 | - |
dc.root | Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины | ru |
dc.placeOfPublication | Гомель | ru |
dc.series | Естественные науки | ru |
dc.number | № 6 (135) | ru |
Appears in Collections: | Известия ГГУ им. Франциска Скорины. Естественные науки |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Емельянов_Повышение.pdf | 362.21 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.