Структура тонких пленок Co/Pd с перпендикулярной магнитной анизотропией

Abstract

Исследовано влияние отжига и присутствия буферного слоя Pd на изменение структуры границ раздела и кристаллической структуры многослойных тонких пленок Co/Pd, осажденных методом термического распыления c толщинами слоев Co (tCo= 0,2–0,4 нм) и Pd (tPd= 0,6–1,0 нм), при которых ожидается максимальная перпендикулярная магнитная анизотропия.

We investigate the effects of annealing and presence of the Pd buffer sublayer on the modifications of interfaces and crystal structure of multilayered Co/Pd thin films deposited by the thermal evaporation method and withthe thicknesses of Co 0.2–0.4 nm and Pd 0.6–1.0 nm at which one can expect the maximum magnetic anisotropy.