Название: Метод волноводной спектроскопии для исследования тонких пленок
Авторы: Васильев, В.В.
Есаев, Д.Г.
Захарьяш, Т.И.
Дата публикации: 1982
Издательство: Наука
Библиографическое описание: Васильев, В.В. Метод волноводной спектроскопии для исследования тонких пленок / В.В. Васильев, Д.Г. Есаев, Т.И. Захарьяш // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1982. – Т. 52, вып. 3. – С. 545-547.
Краткий осмотр (реферат): Показана возможность исследования оптических констант тонких пленок в широком спектральном диапазоне методом волноводной спектроскопии с высоким разрешением.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/52928
Располагается в коллекциях:Оцифрованный фонд

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Васильев_Метод.pdf4.77 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.