Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorНикифорова, Е.А.-
dc.contributor.authorПетлицкий, А.Н.-
dc.date.accessioned2023-02-09T12:09:48Z-
dc.date.available2023-02-09T12:09:48Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationНикифорова, Е.А. Разработка методик контроля деградации тока-стока МОП транзисторов под влиянием горячих носителей / Е.А. Никифорова ; науч. рук. А.Н. Петлицкий // Актуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс] : ХI Республиканская научная конференция студентов, магистрантов и аспирантов, посвященная 100-летию со дня рождения академика Белого Владимира Алексеевича (Гомель, 21 апреля 2022 г.) : сборник материалов : в 2 ч. // М-во образования Респ. Беларусь, Гомельский гос. ун-т им. Ф. Скорины ; редкол. : Д.Л. Коваленко (гл. ред.) [и др.]. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2022. - Ч. 1. – С. 99-102.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/53610-
dc.language.isoruru
dc.publisherГГУ имени. Ф. Скориныru
dc.titleРазработка методик контроля деградации тока-стока МОП транзисторов под влиянием горячих носителейru
dc.typeArticleru
dc.rootАктуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс] : XI Республиканская научная конференция студентов, магистрантов и аспирантов, посвященная 100-летию со дня рождения академика Белого Владимира Алексеевича (Гомель, 21 апреля 2022 г.) : сборник материаловru
dc.placeOfPublicationГомельru
Appears in Collections:Статьи

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Никифорова_Разработка.pdf553.69 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.