| Название: | Разработка методик контроля деградации тока-стока МОП транзисторов под влиянием горячих носителей |
| Авторы: | Никифорова, Е.А. Петлицкий, А.Н. |
| Дата публикации: | 2022 |
| Издательство: | ГГУ имени. Ф. Скорины |
| Библиографическое описание: | Никифорова, Е.А. Разработка методик контроля деградации тока-стока МОП транзисторов под влиянием горячих носителей / Е.А. Никифорова ; науч. рук. А.Н. Петлицкий // Актуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс] : ХI Республиканская научная конференция студентов, магистрантов и аспирантов, посвященная 100-летию со дня рождения академика Белого Владимира Алексеевича (Гомель, 21 апреля 2022 г.) : сборник материалов : в 2 ч. // М-во образования Респ. Беларусь, Гомельский гос. ун-т им. Ф. Скорины ; редкол. : Д.Л. Коваленко (гл. ред.) [и др.]. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2022. - Ч. 1. – С. 99-102. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/53610 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Никифорова_Разработка.pdf | 553.69 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.