1. Репозиторий УО "Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины"
  2. Библиотека ГГУ
  3. Оцифрованный фонд
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМансуров, Г.М.-
dc.contributor.authorМамедов, Р.К.-
dc.contributor.authorСударушкин, А.С.-
dc.contributor.authorСидорин, В.К.-
dc.contributor.authorСидорин, К.К.-
dc.contributor.authorПшеницын, В.И.-
dc.contributor.authorЗолотарёв, В.М.-
dc.date.accessioned2023-02-13T12:23:39Z-
dc.date.available2023-02-13T12:23:39Z-
dc.date.issued1982-
dc.identifier.citationМетодами ВУФ и ИК спектроскопия исследован физико-химический состав поверхностного слоя полированного кварцевого стекла.методами эллипсометрии и спектроскопии / Г.М, Мансуров ; Р.К. Мамедов ; А.С. Сударушкин ; В.К. Сидорин ; К.К. Сидорин ; В.И. Пшеницын ; В.М. Золотарёв // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1982. – Т. 52, вып. 5. – С. 852-856.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/53802-
dc.description.abstractМетодами ВУФ и ИК спектроскопии исследован физико-химический состав поверхностного слоя полированного кварцевого стекла. Показана необходимость учета вклада различных факторов (химический состав, микрорельеф), влияющих на формирование величины показателя преломления, измеряемого разными методами.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherНаукаru
dc.titleМетодами ВУФ и ИК спектроскопия исследован физико-химический состав поверхностного слоя полированного кварцевого стекла.методами эллипсометрии и спектроскопииru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk666.1/.2 : 621.921.021-
dc.rootОптика и спектроскопияru
dc.placeOfPublicationЛенинградru
dc.edition5ru
dc.volume52ru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Мансуров_Исследование.pdf9.62 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.