| Title: | Методами ВУФ и ИК спектроскопия исследован физико-химический состав поверхностного слоя полированного кварцевого стекла.методами эллипсометрии и спектроскопии |
| Authors: | Мансуров, Г.М. Мамедов, Р.К. Сударушкин, А.С. Сидорин, В.К. Сидорин, К.К. Пшеницын, В.И. Золотарёв, В.М. |
| Issue Date: | 1982 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Методами ВУФ и ИК спектроскопия исследован физико-химический состав поверхностного слоя полированного кварцевого стекла.методами эллипсометрии и спектроскопии / Г.М, Мансуров ; Р.К. Мамедов ; А.С. Сударушкин ; В.К. Сидорин ; К.К. Сидорин ; В.И. Пшеницын ; В.М. Золотарёв // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1982. – Т. 52, вып. 5. – С. 852-856. |
| Abstract: | Методами ВУФ и ИК спектроскопии исследован физико-химический состав поверхностного слоя полированного кварцевого стекла. Показана необходимость учета вклада различных факторов (химический состав, микрорельеф), влияющих на формирование величины показателя преломления, измеряемого разными методами. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/53802 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Мансуров_Исследование.pdf | 9.62 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.