Title: Формирование, структурные и морфологические свойства тонких пленок прекурсоров Cu-Sn-Ni
Other Titles: Formation, structural and morphological properties of thin films of Cu-Sn-Ni precursors
Authors: Осмоловская, Т.Н.
Фещенко, А.А.
Станчик, А.В.
Osmolovskaya, T.N.
Feschenko, A.A.
Stanchik, A.V.
Keywords: тонкие пленки
Cu₂NiSn(S,Se)₄
морфология поверхности
рентгенофазовый анализ
thin films
surface morphology
X-ray phase analysis
Issue Date: 2023
Publisher: Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины
Citation: Осмоловская, Т.Н. Formation, structural and morphological properties of thin films of Cu-Sn-Ni precursors / Т.Н. Осмоловская, А.А. Фещенко, А.В. Станчик // Проблемы физики, математики и техники. Сер.: Физика. - 2023. - № 1 (54). - С. 38-42.
Abstract: Представлены результаты формирования прекурсоров Cu-Sn-Ni методом электрохимического осаждения на стеклянные подложки с подслоем молибдена. Проведены исследования структурных, морфологических свойств прекурсоров. Рентгенограммы показали характерные для гексагональной фазы CuSn, кубической фазы CuNi, кубической фазы Ni3Sn и кубической фазы Ni. На рентгенограмме прекурсоров также обнаружены пики, соответствующие материалу подложки молибдену. = The results of the formation of Cu-Sn-Ni precursors by electrochemical deposition on glass substrates with a molybdenum sublayer are presented. The structural and morphological properties of precursors have been studied. The X-ray diffraction patterns showed characteristics of CuSn hexagonal phase, CuNi cubic phase, Ni3Sn cubic phase, and Ni cubic phase. The peaks corresponding to the substrate material, molybdenum, were also found on the X-ray diffraction pattern of the precursors.
URI: http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/56523
Appears in Collections:Проблемы физики, математики, техники. Физика

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Осмоловская_Формирование.pdf1.63 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.