Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДоан, Х.Т.-
dc.contributor.authorГолосов, Д.А.-
dc.contributor.authorДжанг, Дж.-
dc.contributor.authorКананович, Н.А.-
dc.contributor.authorЗавадский, С.М.-
dc.contributor.authorМельников, С.Н.-
dc.contributor.authorDoan, H.T.-
dc.contributor.authorGolosov, D.A.-
dc.contributor.authorZhang, J.-
dc.contributor.authorKananovich, N.A.-
dc.contributor.authorZavadski, S.M.-
dc.contributor.authorMelnikov, S.N.-
dc.date.accessioned2023-06-23T08:54:41Z-
dc.date.available2023-06-23T08:54:41Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationВлияние степени легирования алюминием на свойства пленок оксида титана-алюминия = Influence of aluminum doping degree on the properties of titanium-aluminum oxide films / Х.Т. Доан [и др.] // Проблемы физики, математики и техники. Сер.: Техника. - 2023. - № 2 (55). - С. 74-82.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/61638-
dc.description.abstractПроведены исследования характеристик пленок оксида титана-алюминия, нанесенных методом реактивного магнетронного распыления Ti-Al составных мишеней. Получены зависимости диэлектрической проницаемости, тангенса угла диэлектрических потерь, ширины запрещенной зоны, плотности тока утечки и напряженности поля пробоя от степени легирования пленок алюминием Cᴀl и концентрации кислорода в Ar / O₂ смеси газов в процессе нанесения Гo₂. Установлено, что увеличение Cᴀl приводит к снижению диэлектрических потерь и тока утечки, увеличению ширины запрещенной зоны и напряженности поля пробоя пленок. Однако при этом диэлектрическая проницаемость пленок снижается до значений менее 10. = The characteristics of titanium-aluminum oxide films deposited by reactive magnetron sputtering of Ti-Al compound targets have been studied. The dependences of the permittivity, dielectric loss tangent, band gap, leakage current density, and breakdown field strength on the degree of film doping with aluminum Cᴀl and the oxygen concentration in the Ar / O₂ gas mixture during the deposition of Гo₂ are obtained. It has been established that an increase in Cᴀl leads to a decrease in dielectric losses and leakage current, an increase in the band gap and the strength of the breakdown field of the films. However, in this case, the dielectric constant of the films decreases to values less than 10.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherГомельский государственный университет имени Ф.Скориныru
dc.subjectреактивное магнетронное распылениеru
dc.subjectсоставная мишеньru
dc.subjectтонкие пленкиru
dc.subjectоксид титана-алюминияru
dc.subjectэлементарный составru
dc.subjectдиэлектрическая проницаемостьru
dc.subjectтангенс угла диэлектрических потерьru
dc.subjectток утечкиru
dc.subjectширина запрещенной зоныru
dc.subjectreactive magnetron sputteringru
dc.subjectcomposite targetru
dc.subjectthin filmsru
dc.subjecttitanium-aluminum oxideru
dc.subjectelemental compositionru
dc.subjectdielectric permittivityru
dc.subjectdielectric loss tangentru
dc.subjectleakage currentru
dc.subjectband gapru
dc.titleВлияние степени легирования алюминием на свойства пленок оксида титана-алюминияru
dc.title.alternativeInfluence of aluminum doping degree on the properties of titanium-aluminum oxide filmsru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk621.3.049.77:621.793-
dc.rootПроблемы физики, математики и техникиru
dc.placeOfPublicationГомельru
dc.seriesТехникаru
dc.number№ 2 (55)ru
dc.identifier.DOIhttps://doi.org/10.54341/20778708_2023_2_55_74ru
Appears in Collections:Проблемы физики, математики, техники. Техника

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Доан_Влияние.pdf1.1 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.