Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Стрежнев, С.А. | - |
| dc.contributor.author | Куинджи, В.В. | - |
| dc.contributor.author | Саамова, Т.С. | - |
| dc.date.accessioned | 2023-07-06T09:52:46Z | - |
| dc.date.available | 2023-07-06T09:52:46Z | - |
| dc.date.issued | 1984 | - |
| dc.identifier.citation | Стрежнев, С.А. К вопросу измерения интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками / С.А. Стрежнев, В.В. Куинджи, Т.С. Саамова // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1984. – Т. 56, вып. 2. – С. 353 - 355. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/61740 | - |
| dc.description.abstract | Описан новый метод измерения относительной интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками, основанный на пространственном разделении дефектов и вторичных дифракционных максимумов, соответствующих дифракции Фраунгофера на прямоугольной апертуре исследуемой дифракционной решетки. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Наука | ru |
| dc.title | К вопросу измерения интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 535.421+535.317.1 | - |
| dc.root | Оптика и спектроскопия | ru |
| dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
| dc.edition | 2 | ru |
| dc.volume | 56 | ru |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Стрежнев_К_вопросу.pdf | 23.39 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.